全自動顆粒分析系統(tǒng)是一種用于測量和分析物體顆粒特征的設(shè)備。它基于光學(xué)原理和圖像處理技術(shù)，可以對物體中的顆粒進(jìn)行實時、準(zhǔn)確地檢測和計數(shù)。
其運(yùn)行原理如下：
激光照射：系統(tǒng)通過激光器發(fā)出一束單色、聚焦的激光，在待檢測樣品上形成一個細(xì)小的照射點(diǎn)。
散射信號接收：當(dāng)激光照射到樣品表面時，顆粒會散射部分光線。探測器接收并記錄這些散射信號。
光學(xué)透鏡系統(tǒng)：系統(tǒng)使用透鏡將樣品上的散射信號集中到探測器上，以獲得清晰可見的圖像。
圖像處理與分析：通過高速圖像采集模塊，將獲取到的散射信號轉(zhuǎn)化為黑白二值圖像。然后利用圖像處理算法進(jìn)行邊緣檢測、噪聲去除等操作，最終得到每個顆粒在圖像中的位置和大小信息。
顆粒參數(shù)計算：根據(jù)得到的顆粒位置和大小信息，系統(tǒng)可以計算出各種顆粒參數(shù)，如顆粒的直徑、圓形度、角度等。
數(shù)據(jù)分析和顯示：系統(tǒng)將計算得到的顆粒參數(shù)與預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較，根據(jù)設(shè)定的閾值判斷顆粒是否符合要求。同時，可以通過軟件界面將數(shù)據(jù)以圖表或報告形式展示出來。
全自動顆粒分析系統(tǒng)可以廣泛應(yīng)用于各種行業(yè)和領(lǐng)域，如制藥、食品加工、材料科學(xué)等，用于檢測和分析樣品中的顆粒特征，并提供可靠的質(zhì)量控制和研究參考。
